下面幾種測(cè)溫方法，也不能完全適用于芯片各環(huán)節(jié)的溫度檢測(cè)，這樣的話，怎樣才能做到精準(zhǔn)高效測(cè)溫？【TC WAFER】

芯片溫度檢測(cè)，你知道哪些方法？

●應(yīng)用熱電偶測(cè)量（接觸式測(cè)溫，易產(chǎn)生誤差）

●參照經(jīng)典的結(jié)溫方程（TJ=TA+PD?JA）計(jì)算溫度（相對(duì)保守，與實(shí)際溫度差別較大）

●利用二極管作為溫度傳感器來檢測(cè)（只適用于某些特定情況）

紅外熱像儀是一種非接觸的測(cè)溫儀器，可以通過對(duì)物體表面的熱（溫度）進(jìn)行分布成像與分析，直接“看見”芯片的溫度梯度。

芯片熱像檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例

1.溫度直觀精準(zhǔn)

功率芯片溫度檢測(cè)【TC WAFER】

圖片為L(zhǎng)ED功率型芯片測(cè)試，芯片尺寸為1mm*1mm，針對(duì)此芯片，大家不僅要有確保其金屬部分的溫度一致，非金屬部分的溫度也要保證一致。

因?yàn)樾酒容^小，接觸測(cè)量的話容易因?yàn)榻佑|物而改變芯片自身溫度。FOTRIC熱像儀為非接觸測(cè)，＜50mk的熱靈敏度，能精準(zhǔn)檢測(cè)各部位的溫差，判斷是否符合要求。

2.全輻射熱像視頻流

貼片保險(xiǎn)熔斷測(cè)試

貼片保險(xiǎn)用于保護(hù)電路板，當(dāng)電流不穩(wěn)定時(shí)，保險(xiǎn)會(huì)熔斷以保護(hù)電路，熔斷過程只有300ms左右，無法通過拍照捕捉到。

而FOTRIC熱像儀的（找元器件現(xiàn)貨上唯樣商城）全輻射熱像視頻錄制功能，還可以實(shí)時(shí)監(jiān)控通電過程的溫度變化和分布情況，可隨時(shí)查看溫升曲線，還可以對(duì)視頻進(jìn)行后期的任意分析，方便發(fā)現(xiàn)不足，改善設(shè)計(jì)。

3.配備50μm/100μm微距鏡

未封裝芯片溫度檢測(cè)【TC WAFER】

芯片小至0.5毫米×1.0毫米，F(xiàn)OTRIC微觀檢測(cè)熱像儀支持50μm微距鏡，可直接對(duì)未封裝前細(xì)小芯片進(jìn)行微米級(jí)的微觀溫度成像檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)過熱連接線和連接點(diǎn)，改進(jìn)芯片設(shè)計(jì)。

4.強(qiáng)大的軟件支持

對(duì)要收集到的溫度數(shù)據(jù)，配合AnalyzIR軟件做分析時(shí)的3D溫差模式（ΔT）,可以直觀觀測(cè)到設(shè)計(jì)溫度或理論值之外的異常熱分布，同時(shí)提供趨勢(shì)圖、三維圖、數(shù)值矩陣等多種工具，有利于芯片的設(shè)計(jì)優(yōu)化。