定制型 Wafer晶圓測溫系統(tǒng)
定制型 Wafer晶圓測溫系統(tǒng)利用自主研發(fā)的核心技術(shù)將高精度傳感器集成到晶圓/藍寶石/碳化硅等基材表面,實時監(jiān)控和記錄在制程過程中的溫度變化數(shù)據(jù),為半導(dǎo)體制造過程提供一種高效可靠的方式來監(jiān)測和優(yōu)化關(guān)鍵的工藝參數(shù)。
【應(yīng)用范圍】
晶圓鍵合(wafer bonding)承壓測溫、高溫高速旋轉(zhuǎn)測溫、震動狀態(tài)下測溫、配合溫控系統(tǒng)提供反饋溫度測溫
【產(chǎn)品優(yōu)勢】
1.滿足多種晶圓測溫應(yīng)用場景定制
多功能測溫場景:晶圓鍵合(wafer bonding)承壓測溫、高溫高速旋轉(zhuǎn)測溫、震動狀態(tài)下測溫、配合溫控系統(tǒng)提供反饋溫度測溫
多通道測溫:定制型Wafer晶圓測溫系統(tǒng)支持多通道測溫,可以根據(jù)用戶需求定制測溫點數(shù)和位置,滿足不同尺寸和形狀晶圓的測溫需求。
多種傳感器選擇:用戶可根據(jù)實際需求選擇不同類型的傳感器,如K型、T型、R/S型或RTD,以適應(yīng)不同的測溫范圍和精度要求。
導(dǎo)線長度和終端類型可定制:為了滿足特定應(yīng)用場景的需求,定制型Wafer晶圓測溫系統(tǒng)的導(dǎo)線長度和終端類型也可以根據(jù)用戶要求進行定制。
2. 高精度測溫監(jiān)測:通過定制提供高精度的溫度讀數(shù),最高精度可實現(xiàn)±0.01℃,確保半導(dǎo)體制造過程中的關(guān)鍵步驟能夠在最佳溫度下進行,從而保證產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。
3. 實時測溫數(shù)據(jù)獲?。?/strong>通過定制型Wafer,可以實時監(jiān)測晶圓在熱處理過程中的溫度變化,實現(xiàn)即時調(diào)整工藝參數(shù),優(yōu)化生產(chǎn)效率。
4. 測溫數(shù)據(jù)分析能力:測量后的數(shù)據(jù)通過軟件分析和優(yōu)化工藝參數(shù),提高產(chǎn)量和產(chǎn)品質(zhì)量。
5. 支持過程調(diào)整與驗證:通過分析在產(chǎn)品工藝條件下收集的溫度數(shù)據(jù)實現(xiàn)調(diào)整蝕刻和其他關(guān)鍵工藝步驟的條件,以確保最佳性能。
6. 全面熱分布區(qū)監(jiān)測:在晶圓上支持多達不同位置同時進行溫度監(jiān)測,從而獲得全面的熱分布圖。
【參數(shù)配置】